半导体参数分析系统一套
★*.测量系统采用插卡式架构，最多可插入模块数量≥* 个。
★*.直流信号最大电压输出幅度≥***V。
▲*.直流信号最大电流输出幅度≥***mA。
★*.直流信号电流测量最小分辨率≤*.**fA。
★*.直流信号电流测量精度≤**fA。
▲*.直流信号电压输出分辨率≤*μV。
*.电压测量范围至少覆盖 *.*μV-***V。
▲*.电流测量范围至少覆盖 *-***mA。
★ *.源测量模块数量≥* 个。
★**.C-V 测量频率范围至少覆盖 *KHz-**MHz。
**.C-V 测量偏置电压至少覆盖 ±**V、**V 差分。
★**.高速脉冲 I-V 测试电压范围≥**Vp-p。
★**.高速脉冲 I-V 测试电流量程至少包含 ***mA、***mA、**mA、*mA、***μA、**μA、*μA、***nA。
▲**.高速脉冲输出脉宽最快≤**ns，脉冲输出同时测流时≤**ns。
★**.模块数量为 * 个，包含 * 个源测量模块、* 个电容电压模块、* 个远程前端放大器模块。
▲**.配套电脑配置：
CPU≥*.*GHz **核心 **线程，
内存≥**G DDR* 内存，*槽位，支持***G内存，
硬盘≥***GB 固态 + *T SATA机械 双硬盘，
* 个以上 USB 接口，内置 ***/** MB 以太网络接口，**.* 英寸以上液晶显示器，预装 Windows ** 操作系统。
**.软件类型及功能：支持 Windows 操作，采用图形化界面，全集成化设计；包含标准半导体器件参数测试库；具备专业的二次开发开放平台。
★**.具备设备管理大数据展示功能：可展示设备详情、资产信息、开关机对比、日志信息、运行计划、系统软件统计、系统使用情况等（提供此功能界面截图证明）。
★**.终端端口可分类别底层统一控制（提供此功能界面截图证明）。
★**.溅射靶配置：≥* 套， ≥* 英寸磁控溅射靶，向上溅射，可溅射磁性材料，各靶配有气动挡板结构。
★**.可根据教学计划任务设置，支持固定时间、每天、每周等定时执行各种任务类型，包括切换模板、还原设备数据盘（提供此功能界面截图证明）。
★**.支持收集平台中所有终端硬件配置信息，包括终端名称、设备内存容量、最近运行时间、合计运行时间、硬件变更和记录信息等，便于实验室设备管理（提供此功能界面截图证明）。
★**.具备监测测向一体化频谱管理平台，包含统计分析、任务管理、天线因子管理、环境控制、联系测向功能（提供此功能界面截图证明）。
**.具备矢量信号分析功能，支持多种单载波数字调制信号解调分析，可提供频谱图、矢量图、星座图、眼图、误差 / 符号表等多种显示窗口对调制信号特性进行分析。
测试端口配备 N 型阴转接器。
★**.信息展示：实时滚动显示故障与预警信息，包括异常类型、发生时间、影响范围等内容，信息更新频率≥* 次 / 秒；支持历史故障信息查询，查询时间跨度≥* 年，便于教学复盘。
★**.软件功能提供仪器管理：显示设备状态，支持添加 / 移除 / 替换设备，可实现远程连接。
**.参数设置：支持设置通用参数（扫描点、延迟等）；支持设置类型 / 功能、扫描模式（线性 / 对数等）、量程与限值，实现精准控制测试。
